KMITL Scientific Instruments Center
X-ray Diffractometer (Rigaku)
XD วิเคราะห์โครงสร้าง พร้อมให้บริการ

X-ray Diffractometer (Rigaku)

ชนิดตัวอย่าง
ผงละเอียด เช่น เซรามิก แร่ แผ่นฟิล์ม วัสดุนาโน ฟิล์มบาง สารประกอบอนินทรีย์/อินทรีย์ในรูปผลึก
ปริมาณตัวอย่าง
ประมาณ 0.1–0.5 กรัม (หรือมากกว่า ถ้าต้องบดให้ละเอียด)
ยี่ห้อ
Rigaku
รุ่น
smartlab
ประเทศผู้ผลิต
ประเทศญี่ปุ่น

กรุณาจองล่วงหน้าอย่างน้อย 3 วัน

รายละเอียด

✅ XRD (X-Ray Diffraction) การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (X-ray Diffraction) คือเทคนิควิเคราะห์โครงสร้างของแข็งในระดับผลึก (crystalline) โดยอาศัยหลักการที่รังสีเอกซ์เมื่อยิงไปยังผลึกของวัสดุ จะเกิดการสะท้อนและเลี้ยวเบนตามระนาบผลึก ซึ่งสามารถใช้เพื่อระบุชนิดของสาร วิเคราะห์โครงสร้าง และประเมินคุณสมบัติต่าง ๆ ได้ ชนิดของตัวอย่าง ผงละเอียด เช่น เซรามิก แร่ แผ่นฟิล์ม วัสดุนาโน ฟิล์มบาง สารประกอบอนินทรีย์/อินทรีย์ในรูปผลึก ลักษณะตัวอย่าง เป็นผง แผ่นฟิล์ม ของแข็งที่มีพื้นผิวที่เรียบ เช่น แผ่นเหล็ก ปริมาณตัวอย่างที่ใช้ ประมาณ 0.1–0.5 กรัม (หรือมากกว่า ถ้าต้องบดให้ละเอียด) ยี่ห้อ Rigaku รุ่น smartlab ประเทศผู้ผลิต ประเทศญี่ปุ่น

ข้อมูลที่ต้องเตรียมเมื่อจอง (8)

คุณจะต้องกรอกข้อมูลเหล่านี้ในแบบฟอร์มการจอง

  • จำนวนตัวอย่าง*
    ช่วง 1–12
  • ขื่อสารประกอบ + ลักษณะตัวอย่าง*
  • ตัวอย่างประเภทอื่นๆ (ลักษณะตัวอย่าง)*
  • ต้องการให้ศูนย์เครื่องมือดำเนินการให้ในเรื่องใด*
  • Start
  • Stop
  • Step size
  • Time/Step (Sec)

* จำเป็นต้องระบุ

ข้อมูลติดต่อ

ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์

คณะวิทยาศาสตร์

สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง

กรุงเทพมหานคร 10520

+66 2 329 8000 ต่อ 6518
+092-463-9886
info_ksic@kmitl.ac.th

เวลาทำการ

จันทร์ - ศุกร์ 09:00 - 16:30
เสาร์ ปิดทำการ
อาทิตย์ ปิดทำการ
ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์

ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์

คณะวิทยาศาสตร์ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง

© 2568 - 2569 ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์ คณะวิทยาศาสตร์ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง

สงวนลิขสิทธิ์ทุกประการ

X-ray Diffractometer (Rigaku)
พร้อมให้บริการ