
XD วิเคราะห์โครงสร้าง พร้อมให้บริการ
X-ray Diffractometer (Rigaku)
- ชนิดตัวอย่าง
- ผงละเอียด เช่น เซรามิก แร่ แผ่นฟิล์ม วัสดุนาโน ฟิล์มบาง สารประกอบอนินทรีย์/อินทรีย์ในรูปผลึก
- ปริมาณตัวอย่าง
- ประมาณ 0.1–0.5 กรัม (หรือมากกว่า ถ้าต้องบดให้ละเอียด)
- ยี่ห้อ
- Rigaku
- รุ่น
- smartlab
- ประเทศผู้ผลิต
- ประเทศญี่ปุ่น
กรุณาจองล่วงหน้าอย่างน้อย 3 วัน
รายละเอียด
✅ XRD (X-Ray Diffraction) การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (X-ray Diffraction) คือเทคนิควิเคราะห์โครงสร้างของแข็งในระดับผลึก (crystalline) โดยอาศัยหลักการที่รังสีเอกซ์เมื่อยิงไปยังผลึกของวัสดุ จะเกิดการสะท้อนและเลี้ยวเบนตามระนาบผลึก ซึ่งสามารถใช้เพื่อระบุชนิดของสาร วิเคราะห์โครงสร้าง และประเมินคุณสมบัติต่าง ๆ ได้ ชนิดของตัวอย่าง ผงละเอียด เช่น เซรามิก แร่ แผ่นฟิล์ม วัสดุนาโน ฟิล์มบาง สารประกอบอนินทรีย์/อินทรีย์ในรูปผลึก ลักษณะตัวอย่าง เป็นผง แผ่นฟิล์ม ของแข็งที่มีพื้นผิวที่เรียบ เช่น แผ่นเหล็ก ปริมาณตัวอย่างที่ใช้ ประมาณ 0.1–0.5 กรัม (หรือมากกว่า ถ้าต้องบดให้ละเอียด) ยี่ห้อ Rigaku รุ่น smartlab ประเทศผู้ผลิต ประเทศญี่ปุ่น
ข้อมูลที่ต้องเตรียมเมื่อจอง (8)
คุณจะต้องกรอกข้อมูลเหล่านี้ในแบบฟอร์มการจอง
- จำนวนตัวอย่าง*ช่วง 1–12
- ขื่อสารประกอบ + ลักษณะตัวอย่าง*
- ตัวอย่างประเภทอื่นๆ (ลักษณะตัวอย่าง)*
- ต้องการให้ศูนย์เครื่องมือดำเนินการให้ในเรื่องใด*
- Start
- Stop
- Step size
- Time/Step (Sec)
* จำเป็นต้องระบุ
X-ray Diffractometer (Rigaku)
พร้อมให้บริการ