Scanning Electron Microscope

รายละเอียด

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด Scanning Electron Microscope (SEM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยาย 40 -150,000 เท่า ทำให้สามารถศึกษาโครงสร้างพื้นผิวขนาดเล็กในระดับไมโครเมตรได้ สามารถถ่ายภาพตัวอย่างได้หลากหลายโดยเลือก MODE ให้เหมาะสมสำหรับตัวอย่างแต่ละประเภท 1. 1.High Vacuum Mode สำหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็งและนำไฟฟ้า เช่น โลหะ 2. 2.Low Vacuum Mode สำหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็ง และไม่นำไฟฟ้าเช่น พอลิเมอร์ ยาง เป็นต้น สามารถถ่ายภาพได้โดยไม่จำเป็นต้องทำให้ตัวอย่างนำไฟฟ้าด้วยการเคลือบสารตัวนำไฟฟ้า 3. 3.ระบบสุญญากาศระดับสภาวะแวดล้อม (Environmental SEM) เหมาะกับตัวอย่างที่มีความชื้น สามารถปรับระดับความชื้นและปรับอุณหภูมิต่ำได้ เช่น ตัวอย่างทางชีวภาพ เป็นต้น นอกจากนี้มีโหมดการวัดเพิ่มเติมคือการวิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer: EDS) เป็นการวิเคราะห์หาธาตุในตัวอย่าง ตั้งแต่เบอริลเลียม (Be) จนถึงคาลิฟอร์เนี่ยม (Cf) วิเคราะห์ได้ทั้งเชิงคุณภาพ และเชิงปริมาณ และสามารถวิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิวตัวอย่างที่ศึกษาได้ ปริมาณตัวอย่างที่ใช้ในการวิเคราะห์ ชนิดชิ้นงานขนาดไม่เกิน 1x1x1 เซนติเมตร ชนิดผง น้ำหนักไม่น้อยกว่า 0.5 กรัม Brand : FEI Model : Quanta 250 , Czech Republic

ข้อมูลที่ต้องเตรียมเมื่อจอง (9)

คุณจะต้องกรอกข้อมูลเหล่านี้ในแบบฟอร์มการจอง

• จำนวนตัวอย่าง (ไม่เกิน 7 ตัวอย่าง) ตัวอย่างของท่านต้องไม่มีส่วนประกอบของแม่เหล็ก ไขมัน น้ำมัน หรือสารละลายที่เป็นอันตรายกับเครื่องมือ, กรณีตัวอย่างเป็นชิ้นงาน ขนาดไม่เกิน 1x1x1 cm. ตัวอย่างผงไม่น้อยกว่า 0.2 g*

  ช่วง 1–7
• ชื่อตัวอย่าง + ลักษณะตัวอย่าง*
• กำลังขยายที่ต้องการ (x เท่า)

  ช่วง 40–150000
• ระยะห่างจากวัตถุที่ต้องการตรวจสอบ (mm.)

  ช่วง 1–10
• ETV Target (KV.)

  ช่วง 0.2–30
• COAT GOLD*

  ตัวเลือก: ต้องการ, ไม่ต้องการ
• หากเลือก "ต้องการ" ในช่อง COAT GOLD โปรดระบุเวลา (วินาที)
• Detector

  ตัวเลือก: SE, BSE, EDS
• หากเลือก "EDS" ในช่อง Detector ให้เลือกรูปแบบการวิเคราะห์

  ตัวเลือก: วิเคราะห์เชิงคุณภาพ, วิเคราะห์เชิงปริมาณ, วิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุ

* จำเป็นต้องระบุ